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網絡分析儀在校準前有什么準備工作么

2019-05-06 [1035]
   網絡分析儀在校準前有什么準備工作么

  這個是不一定需要的,盡量將每次校準的state存 入VNA,名字為校準狀態,例如頻率范圍,輸入激勵功率等。如果有新的測試項目,但是它的測試條件和已有狀態相似,且load state后,檢查校準狀態良好,就可用使用以前的校準狀態,而不需要重新校準。將校準state保存并調用的好處在于:Calibration Kit也是有使用壽命的,多次的校準,會是的校準件多次和校準電纜接觸,可能污染校準件,使得校準件特性發生改變,影響下一次校準。盡量養成如下習慣:將 網絡分析儀的port不用的時候加上防塵套;對測試電纜進行標號,使得VNA每個port盡可能固定連接某個電纜;對測試電纜不用時,也需要加上防塵套; 盡量不用很臟的測試電纜等。

  以單端口DUT測量為例,測試模型參考one port error model。

  由 于VNA的輸出和DUT的待測輸入一般都存在中間過渡件/連接件,使得理想網絡分析儀的測試平面和DUT的待測平面間出現了一個誤差網絡。對于單端口誤差模型,有三個誤差項。為了求解三個誤差項,由線性矩陣理論,需要建立三個不相關的方程來求解。校準的原理就是建立這三個方程。

  通過在測試面加入三個已知特性的校準件,例如開路件,反射系數理論上為1,短路件,反射系數理論上為-1,負載件反射系數理論上為0。通過VNA測量這三個校準件,得到實際測量結果。也就得到包含三個誤差模型的線性方程,通過求解就能得到三個誤差項。在后續的測量中,在直接獲得的測試結果中,先通過數學運算,消除三個 誤差項帶來的影響,顯示給用戶的就是校準后DUT的特性。

  當然兩端口誤差模型更加復雜,分為正向和反向,正向具有6個誤差項,反向也有6個誤差項,總共有12個誤差項需要求解,求解方法可用參考"RF Measurement of Die and Packages"

  當然一般網絡分析儀提供的二端口矢量校準方法為SOLT,通過單端口的分析,其實校準件的本質是建立誤差模型方程,選擇不同已知反射系數的校準件,就得到了很多不同的校準方法,例如LRM,LRRM,TRL等等。

  當然校準的本質也是去嵌入(De-embedding)的過程,去嵌入的本質得到誤差網絡的S參數,通過轉換到T參數,運用級聯運算進行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線網絡的S參數,應用也比校準廣泛。

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